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測量厚度從15nm到100um的膜厚測量系統 SR20塑料測厚儀薄膜厚度測量儀可測15nm納米 測量原理:基于光的干涉原理，通過分析從薄膜表面反射和從薄膜/基底界面反射的光的干涉圖案來計算薄膜厚度。 非接觸測量:不需要與樣品接觸，不會對樣品造成損害，特別適合于測量軟質材料或表面易受損的樣品。 高精度:提供非常精確的測量結果，精度可以達到納米級別。